在機(jī)器視覺高精度測量與缺陷檢測領(lǐng)域，高度反射表面（如晶圓、金屬工件、液晶基板）的均勻照明一直是行業(yè)難點(diǎn)，為此，全球機(jī)器視覺光學(xué) MORITEX（茉麗特） 推出了兩大互補(bǔ)的模擬同軸光源系列——MG-Wave? MSCL系列 與 CompaVis? CV-CX系列。這兩個系列專門用于與遠(yuǎn)心鏡頭或其他無內(nèi)置同軸光源的鏡頭配合使用，通過優(yōu)化內(nèi)部的光學(xué)擴(kuò)散結(jié)構(gòu)，模擬出與鏡頭主光軸高度平行的均勻光束，從而*消除表面不平整帶來的陰影，并大幅提升圖像對比度。為了方便系統(tǒng)集成商和視覺工程師進(jìn)行精密的光學(xué)與電氣匹配，兩大系列在規(guī)格設(shè)計(jì)上建立了緊密的對應(yīng)關(guān)系：其中 MSCL系列 作為精密電流驅(qū)動型產(chǎn)品，重點(diǎn)關(guān)注*額定電流與盒高的緊湊性，能夠靈活適應(yīng)空間受限的機(jī)械手臂或設(shè)備內(nèi)部；與之相呼應(yīng)的 CV-CX系列 則直接以功率和外徑尺寸為衡量核心，提供了更大視野和更高亮度的選擇，其較大的外徑結(jié)構(gòu)適合在大視野或中遠(yuǎn)工作距離下提供充足的光通量，即便在高速相機(jī)曝光下也能確保圖像清晰無拖影。在實(shí)際應(yīng)用中，工程師不僅需要考慮物理尺寸與電氣功率的無縫兼容，還需根據(jù)目標(biāo)材質(zhì)的物理特性選擇合的發(fā)光顏色——長波長的紅色光具有較好的穿透和散射容忍度，適用于常規(guī)金屬、塑料的劃痕與打標(biāo)識別；短波長的藍(lán)色光散射率高，對極微小的表面粗糙度變化及薄涂層缺陷具有極高敏感度，多用于半導(dǎo)體和微電子芯片表面的精密檢測；而寬光譜的白色光則顏色還原度*，適合需要區(qū)分多色特征的視覺系統(tǒng)。

MG-Wave? MSCL系列 規(guī)格表