日本大塚電子（OTSUKA Electronics）的分析儀器依托光學(xué)測量、光散射等技術(shù)，應(yīng)用于多個(gè)行業(yè)如下：

?平板顯示行業(yè)?：用于液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等產(chǎn)品的光學(xué)特性評價(jià)與檢查，在顯示器市場已有20年以上的成熟應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)。

?光源與照明行業(yè)?：適配LED、OLED、汽車前燈等各類光源產(chǎn)品，完成光譜、亮度、色度等參數(shù)的高精度檢測。

?半導(dǎo)體行業(yè)?：可實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體晶圓、薄膜的膜厚*測量，滿足芯片制程中的精密質(zhì)控需求。

?新材料與納米技術(shù)行業(yè)?：依托動態(tài)光散射技術(shù)，完成納米顆粒粒徑、Zeta電位、聚合物分子量等物性參數(shù)的分析。

?其他延伸行業(yè)?：還可服務(wù)于高分子化學(xué)、醫(yī)藥、食品、化妝品、環(huán)境檢測等領(lǐng)域，支撐從基礎(chǔ)研發(fā)到生產(chǎn)質(zhì)控的全流程分析需求。

Zeta電位·粒徑·分子量測試系列

?ELSZneo Zeta電位/粒徑/分子量測量系統(tǒng)?

作為旗艦機(jī)型，采用動態(tài)光散射與電泳光散射技術(shù)，粒徑測量范圍覆蓋0.6nm~10μm，支持0~90℃寬溫測試，還可擴(kuò)展粒子濃度測定、微流變分析等功能，適配高鹽環(huán)境下的樣品測試需求。

?nanoSAQLA 多樣品納米粒徑測試系統(tǒng)?

搭載非浸入式光學(xué)結(jié)構(gòu)，無需自動取樣器即可實(shí)現(xiàn)*多5個(gè)樣品連續(xù)測量，單樣測試僅需1分鐘，粒徑測量范圍0.6nm~10μm，適配從稀薄到高濃度的各類納米樣品，廣泛應(yīng)用于高校和企業(yè)的高通量測試場景。

?ELSZ-2000ZS Zeta電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)?

經(jīng)典款多參數(shù)分析設(shè)備，可同步完成納米顆粒粒徑、Zeta電位、*分子量的表征，是材料、生物醫(yī)藥的常用基礎(chǔ)款儀器。

二、光散射與結(jié)構(gòu)分析系列

?DLS-8000 動態(tài)光散射光譜儀?

結(jié)合動態(tài)與靜態(tài)光散射技術(shù)，可測量顆粒粒徑分布、*分子量、回轉(zhuǎn)半徑等參數(shù)，支持凝膠狀態(tài)分析，適配高濃度聚合物溶液的高精度測試。

?PP-1000 聚合物相結(jié)構(gòu)分析儀?

采用小角光散射法，可原位實(shí)時(shí)分析聚合物、薄膜的亞微米至微米級結(jié)構(gòu)，能捕捉聚合物相分離、結(jié)晶過程的動態(tài)變化，是高分子材料研發(fā)的設(shè)備。

三、膜厚與光學(xué)特性評估系列

?MCPD系列多通道光譜儀?

作為大塚電子的經(jīng)典核心產(chǎn)品，擁有20年以上的市場應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，用于LED、顯示面板的光學(xué)特性檢測，覆蓋從研發(fā)端到產(chǎn)線端的各類光譜測試場景。

?非接觸式光學(xué)膜厚儀系列（AT-5000、FE-5000等）?

適配半導(dǎo)體晶圓、光學(xué)薄膜的高精度膜厚測量，可支持大氣、真空等復(fù)雜工況下的在線嵌入式檢測，覆蓋半導(dǎo)體前道制程的膜厚質(zhì)控需求。

?MINUK 光波動場三維顯微鏡?

2024年推出的全新設(shè)備，可非破壞性地觀測透明材料的內(nèi)部缺陷、表面形貌，無需對焦即可快速獲取三維結(jié)構(gòu)信息，適配光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體、生物細(xì)胞等觀測需求。