日本大塚電子（OTSUKA Electronics）的分析儀器依托光學測量、光散射等技術，應用于多個行業(yè)如下：

?平板顯示行業(yè)?：用于液晶顯示器、有機EL顯示器等產(chǎn)品的光學特性評價與檢查，在顯示器市場已有20年以上的成熟應用經(jīng)驗。

?光源與照明行業(yè)?：適配LED、OLED、汽車前燈等各類光源產(chǎn)品，完成光譜、亮度、色度等參數(shù)的高精度檢測。

?半導體行業(yè)?：可實現(xiàn)半導體晶圓、薄膜的膜厚*測量，滿足芯片制程中的精密質(zhì)控需求。

?新材料與納米技術行業(yè)?：依托動態(tài)光散射技術，完成納米顆粒粒徑、Zeta電位、聚合物分子量等物性參數(shù)的分析。

?其他延伸行業(yè)?：還可服務于高分子化學、醫(yī)藥、食品、化妝品、環(huán)境檢測等領域，支撐從基礎研發(fā)到生產(chǎn)質(zhì)控的全流程分析需求。

Zeta電位·粒徑·分子量測試系列

?ELSZneo Zeta電位/粒徑/分子量測量系統(tǒng)?

作為旗艦機型，采用動態(tài)光散射與電泳光散射技術，粒徑測量范圍覆蓋0.6nm~10μm，支持0~90℃寬溫測試，還可擴展粒子濃度測定、微流變分析等功能，適配高鹽環(huán)境下的樣品測試需求。

?nanoSAQLA 多樣品納米粒徑測試系統(tǒng)?

搭載非浸入式光學結(jié)構，無需自動取樣器即可實現(xiàn)*多5個樣品連續(xù)測量，單樣測試僅需1分鐘，粒徑測量范圍0.6nm~10μm，適配從稀薄到高濃度的各類納米樣品，廣泛應用于高校和企業(yè)的高通量測試場景。

?ELSZ-2000ZS Zeta電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)?

經(jīng)典款多參數(shù)分析設備，可同步完成納米顆粒粒徑、Zeta電位、*分子量的表征，是材料、生物醫(yī)藥的常用基礎款儀器。

二、光散射與結(jié)構分析系列

?DLS-8000 動態(tài)光散射光譜儀?

結(jié)合動態(tài)與靜態(tài)光散射技術，可測量顆粒粒徑分布、*分子量、回轉(zhuǎn)半徑等參數(shù)，支持凝膠狀態(tài)分析，適配高濃度聚合物溶液的高精度測試。

?PP-1000 聚合物相結(jié)構分析儀?

采用小角光散射法，可原位實時分析聚合物、薄膜的亞微米至微米級結(jié)構，能捕捉聚合物相分離、結(jié)晶過程的動態(tài)變化，是高分子材料研發(fā)的設備。

三、膜厚與光學特性評估系列

?MCPD系列多通道光譜儀?

作為大塚電子的經(jīng)典核心產(chǎn)品，擁有20年以上的市場應用經(jīng)驗，用于LED、顯示面板的光學特性檢測，覆蓋從研發(fā)端到產(chǎn)線端的各類光譜測試場景。

?非接觸式光學膜厚儀系列（AT-5000、FE-5000等）?

適配半導體晶圓、光學薄膜的高精度膜厚測量，可支持大氣、真空等復雜工況下的在線嵌入式檢測，覆蓋半導體前道制程的膜厚質(zhì)控需求。

?MINUK 光波動場三維顯微鏡?

2024年推出的全新設備，可非破壞性地觀測透明材料的內(nèi)部缺陷、表面形貌，無需對焦即可快速獲取三維結(jié)構信息，適配光學薄膜、半導體、生物細胞等觀測需求。