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Platinous系列四川高低溫箱滿足以下標準 GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件 GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件 GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫 GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)） GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 則 GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗 GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗 GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗
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Platinous系列四川高低溫箱滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗